日(rì)本YAMADA山田光(guāng)學鹵(lǔ)素光源YP-250I檢(jiǎn)測儀
簡要描(miáo)述：
YP-150I日本YAMADA山田光(guāng)學(xué)鹵(lǔ)素光源(yuán)YP-250I檢測(cè)儀(yí)高(gāo)亮度(dù)鹵素光源是(shì)一種宏觀觀察(chá)照明(míng)裝(zhuāng)置，用於(yú)檢(jiǎn)測最(zuì)終成品(pǐn)表麵上的(dí)異物(wù)，劃痕(hén)，未拋光(guāng)不平整(zhěng)，霧(wù)度(dù)和滑(huá)移(yí)等(děng)各種缺陷，在(zài)半導體(tǐ)晶片(piàn)和液晶(jīng)基(jī)板的(dí)加(jiā)工過(guò)程中(zhōng)需要(yào)最(zuì)多(duō)的(dí)人力。
產品型(xíng)號：YP-150I
產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-22
打印當(dāng)前頁YP-150I
日(rì)本YAMADA山田(tián)光(guāng)學鹵(lǔ)素光(guāng)源YP-250I檢測儀
高(gāo)亮(liàng)度鹵(lǔ)素光源(yuán)是(shì)一(yī)種宏觀觀(guān)察(chá)照(zhào)明裝(zhuāng)置，用於檢測
最(zuì)終(zhōng)成品表(biǎo)麵(miàn)上(shàng)的(dí)異物(wù)，劃痕(hén)，未拋光(guāng)不(bù)平整，霧(wù)度和滑移等(děng)各種缺陷(xiàn)，在半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)晶片和(hé)液晶基(jī)板(bǎn)的加工過(guò)程(chéng)中(zhōng)需(xū)要(yào)最(zuì)多的(dí)
人力。
高(gāo)亮度鹵(lǔ)素光(guāng)源是(shì)一種宏觀觀察照明(míng)裝置(zhì)，用於檢(jiǎn)測
最終成(chéng)品(pǐn)表麵(miàn)上的異物，劃痕，未拋(pāo)光不平(píng)整，霧度和(hé)滑(huá)移等各種(zhǒng)缺陷，在半(bàn)導體晶(jīng)片和(hé)液晶(jīng)基板(bǎn)的加工過(guò)程中(zhōng)需要最多(duō)的
人(rén)力(lì)。
日(rì)本(běn)YAMADA山田光(guāng)學鹵素(sù)光源YP-250I檢(jiǎn)測(cè)儀
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